Y2023M10Q6｜2023年10月公表 エックス線作業主任者免許試験 過去問

正答

（2）

この問題のポイント

X線マイクロアナライザーは微小部へ電子線を当て、発生する特性X線を分光して局所元素分析を行います。さらに、X線応力測定は結晶面間隔の応力による変化を回折角の変化として測ります。

解説

X線は電磁波であり、発生、相互作用、減弱、散乱、検出・利用の各段階で支配する物理量が異なります。名称だけでなく原因と結果を対応させます。

X線応力測定は結晶面間隔の応力による変化を回折角の変化として測ります。

選択肢の確認

1．エックス線応力測定装置 ………………………… 回折
判定：正答ではない（正しい記述・組合せ）。 X線応力測定は結晶面間隔の応力による変化を回折角の変化として測ります。

2．エックス線CT 装置 ……………………………… 回折
判定：正答（誤っている記述・組合せ）。 X線CTは多方向の透過データを計算機で再構成して断層像を得ます。回折を利用する装置ではありません。

3．蛍光エックス線分析装置 ………………………… 分光
判定：正答ではない（正しい記述・組合せ）。 蛍光X線分析は試料から放出される元素固有の特性X線を分光して元素を同定・定量します。

4．エックス線マイクロアナライザー ……………… 分光
判定：正答ではない（正しい記述・組合せ）。 X線マイクロアナライザーは微小部へ電子線を当て、発生する特性X線を分光して局所元素分析を行います。

5．エックス線厚さ計 ………………………………… 散乱
判定：正答ではない（正しい記述・組合せ）。 散乱型厚さ計は厚さに応じて変わる後方散乱線強度を利用します。透過型は透過強度を利用します。

覚えるポイント

回折を利用する装置ではありません。X線CTは多方向の透過データを計算機で再構成して断層像を得ます。散乱型厚さ計は厚さに応じて変わる後方散乱線強度を利用します。