Y2024M04Q9｜2024年4月公表 エックス線作業主任者免許試験 過去問

正答

（1）

この問題のポイント

X線マイクロアナライザーは微小部へ電子線を当て、発生する特性X線を分光して局所元素分析を行います。X線CTは多方向の透過データを計算機で再構成して断層像を得ます。

解説

X線は電磁波であり、発生、相互作用、減弱、散乱、検出・利用の各段階で支配する物理量が異なります。名称だけでなく原因と結果を対応させます。

X線マイクロアナライザーは微小部へ電子線を当て、発生する特性X線を分光して局所元素分析を行います。

選択肢の確認

1．エックス線マイクロアナライザー ……………… 散乱
判定：正答（誤っている記述・組合せ）。 X線マイクロアナライザーは微小部へ電子線を当て、発生する特性X線を分光して局所元素分析を行います。

2．エックス線単結晶方位測定装置 ………………… 回折
判定：正答ではない（正しい記述・組合せ）。 X線単結晶方位測定装置は結晶面による回折像を用いて結晶方位を決定します。

3．蛍光エックス線分析装置 ………………………… 分光
判定：正答ではない（正しい記述・組合せ）。 蛍光X線分析は試料から放出される元素固有の特性X線を分光して元素を同定・定量します。

4．エックス線応力測定装置 ………………………… 回折
判定：正答ではない（正しい記述・組合せ）。 X線応力測定は結晶面間隔の応力による変化を回折角の変化として測ります。

5．エックス線CT 装置 ……………………………… 透過
判定：正答ではない（正しい記述・組合せ）。 X線CTは多方向の透過データを計算機で再構成して断層像を得ます。回折を利用する装置ではありません。

覚えるポイント

X線応力測定は結晶面間隔の応力による変化を回折角の変化として測ります。X線単結晶方位測定装置は結晶面による回折像を用いて結晶方位を決定します。蛍光X線分析は試料から放出される元素固有の特性X線を分光して元素を同定・定量します。