Y2024M10Q8｜2024年10月公表 エックス線作業主任者免許試験 過去問
エックス線の利用に関する次のA からD の記述について、正しいものの全ての組合せは（１）～（５）のうちどれか。 A 被検査物体にエックス線を照射し、透過線の強度の違いから内部の構造を調べる手法をラジオグラフィ（透過撮影法）という。 B 空港の手荷物検査装置は、被検査物体にエックス線を照射した結果発生する特性エックス線のエネルギーを分析することにより、手荷物の検査を行う装置である。 C 後方散乱線を利用する検査方法では、エックス線フィルム（又はエックス線検出器）を、被検査物体の裏側ではなく、エックス線源と同じ側に配置して検査を行う。 D 溶接による残留応力など金属にひずみがあると原子が規則正しく並んでいる格子間隔が正常値からずれるので、エックス線の回折を利用して、ひずみの度合いを測定することができる。
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正解: 2
正答
（2）
この問題のポイント
ラジオグラフィは被検査物の内部で生じる透過強度差を画像化し、欠陥や内部構造を調べる方法です。後方散乱法では入射側へ戻る散乱光子を受けるため、検出器は被検査物の裏側でなくX線源と同じ側へ配置します。
解説
Aは正しいです。被検査物体にエックス線を照射し、透過線の強度の違いから内部の構造を調べる手法をラジオグラフィ（透過撮影法）というという条件では、ラジオグラフィは被検査物の内部で生じる透過強度差を画像化し、欠陥や内部構造を調べる方法です。
Bは誤りです。空港の手荷物検査装置は、被検査物体にエックス線を照射した結果発生する特性エックス線のエネルギーを分析することにより、手荷物の検査を行う装置であるという条件では、空港の手荷物検査は主に透過X線の減弱差を画像化する装置で、発生した特性X線を分光する蛍光X線分析ではありません。
Cは正しいです。後方散乱線を利用する検査方法では、エックス線フィルム（又はエックス線検出器）を、被検査物体の裏側ではなく、エックス線源と同じ側に配置して検査を行うという条件では、後方散乱法では入射側へ戻る散乱光子を受けるため、検出器は被検査物の裏側でなくX線源と同じ側へ配置します。
Dは正しいです。溶接による残留応力など金属にひずみがあると原子が規則正しく並んでいる格子間隔が正常値からずれるので、エックス線の回折を利用して、ひずみの度合いを測定することができるという条件では、金属の残留応力は結晶面間隔を変えるため、Bragg回折角のずれを測ってひずみと応力を評価できます。
選択肢の確認
1．A,B,C
判定：正答ではない（記述・組合せは誤り）。 Bを採用した点が誤りです。空港の手荷物検査は主に透過X線の減弱差を画像化する装置で、発生した特性X線を分光する蛍光X線分析ではありません。Dを外した点も誤りです。金属の残留応力は結晶面間隔を変えるため、Bragg回折角のずれを測ってひずみと応力を評価できます。
2．A,C,D
判定：正答（記述・組合せは正しい）。 Aはラジオグラフィは被検査物の内部で生じる透過強度差を画像化し、欠陥や内部構造を調べる方法です。また、Cは後方散乱法では入射側へ戻る散乱光子を受けるため、検出器は被検査物の裏側でなくX線源と同じ側へ配置します。また、Dは金属の残留応力は結晶面間隔を変えるため、Bragg回折角のずれを測ってひずみと応力を評価できます。
3．A,D
判定：正答ではない（記述・組合せは誤り）。 Cを外した点も誤りです。後方散乱法では入射側へ戻る散乱光子を受けるため、検出器は被検査物の裏側でなくX線源と同じ側へ配置します。
4．B,C
判定：正答ではない（記述・組合せは誤り）。 Bを採用した点が誤りです。空港の手荷物検査は主に透過X線の減弱差を画像化する装置で、発生した特性X線を分光する蛍光X線分析ではありません。Aを外した点も誤りです。ラジオグラフィは被検査物の内部で生じる透過強度差を画像化し、欠陥や内部構造を調べる方法です。Dを外した点も誤りです。金属の残留応力は結晶面間隔を変えるため、Bragg回折角のずれを測ってひずみと応力を評価できます。
5．C,D
判定：正答ではない（記述・組合せは誤り）。 Aを外した点も誤りです。ラジオグラフィは被検査物の内部で生じる透過強度差を画像化し、欠陥や内部構造を調べる方法です。
覚えるポイント
金属の残留応力は結晶面間隔を変えるため、Bragg回折角のずれを測ってひずみと応力を評価できます。空港の手荷物検査は主に透過X線の減弱差を画像化する装置で、発生した特性X線を分光する蛍光X線分析ではありません。