Y2026M04Q8｜2026年4月公表 エックス線作業主任者免許試験 過去問

正答

（2）

この問題のポイント

X線マイクロアナライザーは微小部へ電子線を当て、発生する特性X線を分光して局所元素分析を行います。そのうえ、X線応力測定は結晶面間隔の応力による変化を回折角の変化として測ります。

解説

透過試験とCTは透過強度、結晶構造・応力・単結晶方位は回折、蛍光X線分析とマイクロアナライザーは特性X線の分光、散乱型厚さ計は後方散乱強度を使います。

特性X線の波長は元素固有の殻間エネルギー差で決まり、励起後に管電圧を上げても線の位置は変わりません。

選択肢の確認

1．蛍光エックス線分析装置は、試料にエックス線を照射して発生した特性エックス線（蛍光エックス線）の波長を分析し、又はエネルギーを測定することによって、元素分析を行う装置である。
判定：正答ではない（正しい記述・組合せ）。 特性X線の波長は元素固有の殻間エネルギー差で決まり、励起後に管電圧を上げても線の位置は変わりません。

2．エックス線マイクロアナライザーは、細く絞ったエックス線を物質に照射すると特有の回折像が得られることを利用して、物質の結晶構造を解析する装置である。
判定：正答（誤っている記述・組合せ）。 X線マイクロアナライザーは微小部へ電子線を当て、発生する特性X線を分光して局所元素分析を行います。

3．散乱型厚さ計は、被検査物体にエックス線を照射したときに発生する後方散乱線の強度が、被検査物体の厚さに応じて変化することを利用した装置である。
判定：正答ではない（正しい記述・組合せ）。 散乱型厚さ計は厚さに応じて変わる後方散乱線強度を利用します。透過型は透過強度を利用します。

4．エックス線応力測定装置は、応力による結晶の面間隔の変化をエックス線の回折を利用して調べることにより、物質内の残留応力の大きさを測定する装置である。
判定：正答ではない（正しい記述・組合せ）。 X線応力測定は結晶面間隔の応力による変化を回折角の変化として測ります。

5．エックス線透過試験装置は、被検査物体を透過したエックス線による画像を観察する装置で、画像の検出にはフィルムなどが用いられる。
判定：正答ではない（正しい記述・組合せ）。 X線透過試験は被検査物を透過した強度分布をフィルム、イメージングプレート等へ画像として記録し、内部欠陥を観察します。

覚えるポイント

散乱型厚さ計は厚さに応じて変わる後方散乱線強度を利用します。X線透過試験は被検査物を透過した強度分布をフィルム、イメージングプレート等へ画像として記録し、内部欠陥を観察します。