37AM26｜第37回 臨床工学技士国家試験 過去問

正答

5

この問題のポイント

この問題では、医用計測機器における内部雑音の発生要因が問われています。

内部雑音とは、機器内部の部品や回路の性質によって発生する雑音です。外部から侵入する雑音と区別して考えます。

解説

医用計測では、心電図、脳波、筋電図などの微小な生体信号を扱います。そのため、雑音の原因を理解し、信号品質を確保することが重要です。

小項目を確認すると、次のようになります。

• ａ．近隣への落雷：外部からの誘導やサージの原因であり、内部雑音ではありません。
• ｂ．機器の接地不良：商用電源雑音や外来雑音を受けやすくする要因ですが、内部雑音そのものではありません。
• ｃ．抵抗器の温度上昇：熱雑音の増加につながり、内部雑音の発生要因です。
• ｄ．電子部品の接触不良：接触雑音や不安定な信号変動の原因になり、内部雑音の発生要因です。
• ｅ．電子部品間相互の電磁誘導：機器内部の部品間で誘導雑音を生じるため、内部雑音の発生要因です。

したがって、ｃ、ｄ、ｅを含む選択肢5が正答です。

ひっかけポイント
雑音の問題では、機器内部で発生する雑音なのか、外部から混入する雑音なのかを先に分けます。落雷や接地不良は外来雑音や誘導雑音の原因として考えます。

選択肢の確認

1．誤り。
選択肢1はａ、ｂ、ｃの組合せです。ｃは内部雑音の要因ですが、ａの落雷とｂの接地不良は内部雑音そのものの発生要因としては不適切です。

2．誤り。
選択肢2はａ、ｂ、ｅの組合せです。ｅは内部雑音の要因になり得ますが、ａとｂが不適切です。

3．誤り。
選択肢3はａ、ｄ、ｅの組合せです。ｄとｅは内部雑音の要因ですが、ａの近隣への落雷は外部要因です。

4．誤り。
選択肢4はｂ、ｃ、ｄの組合せです。ｃとｄは内部雑音の要因ですが、ｂの接地不良は外来雑音を受けやすくする要因として考えます。

5．正しい。
選択肢5はｃ、ｄ、ｅの組合せです。抵抗器の温度上昇、電子部品の接触不良、電子部品間相互の電磁誘導はいずれも機器内部で発生する雑音の要因になります。

覚えるポイント

• 内部雑音は、機器内部の部品や回路に由来します。
• 抵抗器では熱雑音が問題になります。
• 接触不良は不安定な信号変動や接触雑音を起こします。
• 部品間の電磁誘導は機器内部の誘導雑音になります。
• 落雷や接地不良は、外部雑音や外来雑音の文脈で整理します。