Y2025M04Q25|2025年4月公表 エックス線作業主任者免許試験 過去問
サーベイメータに関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。
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正解: 1
正答
(1)
この問題のポイント
微弱場の探索には高感度なGM式又はシンチレーション式、高線量率の定量には数え落としのない電離箱式が適します。入射窓と検出媒体により低エネルギー側の応答限界も変わります。電離箱式は電離電流を連続量として測るため、高線量率のX線場でも数え落としを生じません。 半導体検出器は一事象の付与エネルギーから多数の電子・正孔対を得られ、統計ゆらぎが小さいため、NaI(Tl)よりエネルギー分解能が良好です。
解説
微弱場の探索には高感度なGM式又はシンチレーション式、高線量率の定量には数え落としのない電離箱式が適します。入射窓と検出媒体により低エネルギー側の応答限界も変わります。
半導体式サーベイメータは電子・正孔対を利用し、小型で低線量率にも高感度ですが、低エネルギー側の応答には注意が必要です。
選択肢の確認
1.NaI(Tl)シンチレーション式サーベイメータは、入射エックス線のエネルギー分析における分解能が半導体式サーベイメータに比べて優れている。
× 判定:正答(誤っている記述)。半導体検出器は一事象の付与エネルギーから多数の電子・正孔対を得られ、統計ゆらぎが小さいため、NaI(Tl)よりエネルギー分解能が良好です。記述は優劣を逆にしています。
2.NaI(Tl)シンチレーション式サーベイメータは、後方からのエックス線に対して検出効率が低い。
○ 判定:正答ではない(記述は正しい)。NaI(Tl)式サーベイメータは入射窓の前面から入る線に対して校正されます。後方では筐体、光電子増倍管などがエックス線を遮蔽・吸収し、検出効率が低下するため全方向で同感度ではありません。
3.NaI(Tl)シンチレーション式サーベイメータは、30keV 程度のエネルギーのエックス線の測定には適していない。
○ 判定:正答ではない(記述は正しい)。30 keV程度の低エネルギーX線は、入射窓や密封容器で強く吸収され、NaI(Tl)式の応答がエネルギーに大きく依存します。通常機の適用範囲とする記述は誤りです。
4.電離箱式サーベイメータは、エネルギー依存性及び方向依存性が小さいので、散乱線の多い区域の測定に適している。
○ 判定:正答ではない(記述は正しい)。電離箱式は広いエネルギー範囲で線量率を測れるため、散乱線を多く含むX線場の評価に適します。
5.半導体式サーベイメータは、20keV 程度のエネルギーのエックス線の測定には適していない。
○ 判定:正答ではない(記述は正しい)。半導体式サーベイメータは電子・正孔対を利用し、小型で低線量率にも高感度ですが、低エネルギー側の応答には注意が必要です。
覚えるポイント
電離箱式は感度が低い一方、散乱線を含む高線量率場を線量率として測る用途に向きます。半導体式サーベイメータは電子・正孔対を利用し、小型で低線量率にも高感度ですが、低エネルギー側の応答には注意が必要です。GM式は高計数率で数え落とし・飽和を起こし得ます。