73AM93|第73回 診療放射線技師国家試験 過去問

過去問題(分野未登録)第73回

スリット法で測定した CR システムのプリサンプリング MTF を図に示す。 高空間周波数領域で MTF が上昇している原因として考えられるのはどれか。

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正解: 5

正答

5

この問題のポイント

プリサンプリングMTFのスリット法で、画素格子とスリットの平行配置が作るエイリアシングを識別します。

解説

デジタル検出器のプリサンプリングMTFを求めるときは、スリットを画素列に対しわずかに傾け、多数行の異なるサブピクセル位相から過剰サンプリングしたLSFを作ります。長軸を画素列と完全に平行にすると同じ位相だけを標本化し、Nyquist周波数付近以上の折り返しが混入して高周波MTFが不自然に上昇します。

選択肢の確認

1

1.階調処理が影響した。

判定:正答ではない(記述は誤り)。 階調処理は入出力のコントラストを変えますが、図のようなNyquist領域の周期的な折返し上昇の特異的原因ではありません。

2

2.有効露光量変換を行わなかった。

判定:正答ではない(記述は誤り)。 有効露光量変換はCRの特性曲線を線形化するため重要ですが、未実施の主影響はLSF振幅の非線形性であり、画素列平行によるエイリアシングとは異なります。

3

3.イメージングプレートが劣化していた。

判定:正答ではない(記述は誤り)。 イメージングプレートの劣化は感度・均一性やノイズに影響し得ますが、高周波のみMTFが折り返して上がる幾何学的原因ではありません。

4

4.量子モトルによる雑音が強く影響した。

判定:正答ではない(記述は誤り)。 量子モトルはLSFのばらつきを増やしますが、多数プロファイルの平均で低減すべきノイズで、系統的な高周波上昇の原因ではありません。

5

5.金属スリット長軸を画素列と平行にした。

判定:正答(記述は正しい)。 金属スリットの長軸を画素列と平行にするとサブピクセル位相を十分に得られず、エイリアシングが高周波成分に混入します。

覚えるポイント

  • デジタルMTF測定ではスリット/エッジを画素列に対しわずかに傾けます。
  • 高周波の不自然な上昇は折り返しエイリアシングを疑います。

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