72AM80|第72回 診療放射線技師国家試験 過去問
診断用 X 線の半価層計測で正しいのはどれか。
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正解: 2
正答
2
この問題のポイント
診断X線の半価層は、高純度アルミニウムと小型電離箱を使うナロービーム条件で測ります。
解説
半価層は吸収体なしの空気カーマ率を半分にする吸収体厚です。診断領域では高純度Al板を段階的に加え、小型空気電離箱で透過線量を測定します。吸収体‐検出器間距離を取り、検出器を覆う必要最小限の狭い照射野として散乱線混入を抑えます。
選択肢の確認
1
1.吸収体として鉛を用いる。
判定:正答ではない(記述は誤り)。 診断領域X線の標準吸収体はアルミニウムで、減弱が強すぎる鉛ではありません。
2
2.小型の空気電離箱を用いる。
判定:正答(記述は正しい)。 空気カーマに対し安定でエネルギー応答を管理しやすい小容積空気電離箱を用います。
3
3.吸収体と検出器を密着させる。
判定:正答ではない(記述は誤り)。 密着すると吸収体からの散乱線が検出器へ入り、透過率を過大評価するため距離を離します。
4
4.純度 50%以上の吸収体を用いる。
判定:正答ではない(記述は誤り)。 不純物で減弱特性が変わらないよう、通常は99.9%以上など十分に高純度のAlを用い、50%では不十分です。
5
5.照射野を吸収体の大きさに合わせる。
判定:正答ではない(記述は誤り)。 照射野は吸収体全面へ広げず、検出器の有効体積を覆う最小限に絞って散乱を減らします。
覚えるポイント
- 半価層測定=高純度Al・小型電離箱・ナロービーム幾何学です。
- 半価層が厚いほど実効エネルギーが高く、線質が硬いことを示します。
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