75AM79｜第75回 診療放射線技師国家試験 過去問

正答

1

この問題のポイント

この設問では、次の知識を判断の軸にします：β後方散乱はエネルギー・材質・厚さ・幾何に依存します。

解説

後方散乱係数は後方散乱体材がない場合に対するある場合の計数率比で、βエネルギー、後方散乱体材の原子番号・組成・厚さ、検出幾何に依存します。測定時間は統計不確かさを変えますが係数の期待値を変えません。

選択肢の確認

1

1．測定時間

判定：正答（記述は正しい）。 測定時間は計数統計を改善するだけで後方散乱割合を変えません。

2

2．試料台の厚さ

判定：正答ではない（記述は誤り）。 試料台が薄い間は厚さとともに後方散乱が増え、飽和厚に達します。

3

3．β 線のエネルギー

判定：正答ではない（記述は誤り）。 βエネルギーで散乱角度・後方散乱確率が変わります。

4

4．試料台の物質の組成

判定：正答ではない（記述は誤り）。 高原子番号材ほど一般に後方散乱が大きくなります。

5

5．GM 計数管と試料台との距離

判定：正答ではない（記述は誤り）。 検出器と台の距離は散乱β線を受ける幾何学的効率に影響します。

覚えるポイント

• β後方散乱はエネルギー・材質・厚さ・幾何に依存します。
• 測定時間は係数でなく統計精度に影響します。